“分级测试”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果816052个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]烟叶分级测试方法、装置、存储介质、以及电子终端-CN201810916913.6在审
发明人：闫鼎;王英元;郭文;张威;张培智;蔡宪杰;罗安娜;许伟;孙吉;冯晓民 -专利权人：上海烟草集团有限责任公司;国家烟草质量监督检验中心
申请日： 2018-08-13 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本发明提供一种烟叶分级测试方法，其包括：提供第一轮烟叶分级测试，所述第一轮烟叶分级测试包括多个待分级烟叶，以供受试员进行烟叶分级；提供至少一轮后续烟叶分级测试，所述后续烟叶分级测试亦包括多个待分级烟叶，以供所述受试员进行烟叶分级；比较第一测试结果信息和第二测试结果信息，并统计测试结果相一致的烟叶数量；计算所述分析结果一致的烟叶数量在所述第一烟叶数量中的占比，据以判断该受试员是否合格。本发明提供的烟叶分级测试方法为烟叶分级测试提供数据支撑，智能化地判断烟叶分级结果，不仅可改善烟叶分级的稳定性还能大大提升烟叶分级效率。
烟叶分级测试烟叶测试结果信息分级存储介质电子终端数据支撑统计测试智能化

[发明专利]用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质-CN202211414466.7在审
发明人：王世生 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开实施例提供一种用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质。该方法包括：获取测试芯片的芯片针测结果和最终测试结果，测试芯片的芯片针测结果包括测试芯片在各测试项下的测量值，测试芯片的最终测试结果为测试通过或测试失败；根据测试芯片的最终测试结果，确定测试芯片的标签，标签为测试通过芯片或测试失败芯片；根据测试芯片在各测试项下的测量值及其标签，获取目标卡控值；获取待分级芯片的芯片针测结果，待分级芯片的芯片针测结果包括待分级芯片在各测试项下的测量值；根据待分级芯片在各测试项下的测量值和目标卡控值，确定待分级芯片的目标芯片等级，本公开实施例的方法得到的芯片分级结果更加客观准确。
用于芯片分级方法装置计算机设备可读存储介质

[发明专利]制造半导体封装的方法-CN201811080326.4在审
发明人：安镇灿;金原永;黄敬善 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2018-09-17 - 公布日： 2019-04-26 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：一种制造半导体封装的方法包括：作为执行管芯电特性拣选(EDS)工艺的结果获得根据测试分级项目分类的多个单独芯片，管芯电特性拣选工艺包括在晶片级测试多个芯片的电特性；在电路基板的对应的芯片安装区域上封装单独芯片，并且基于芯片安装区域的位置信息形成多个单独封装，单独封装的每个具有对应于测试分级项目的测试分级项目信息；基于测试分级项目信息根据测试分级项目对所述多个单独封装分类；以及测试根据测试分级项目分类的单独封装
分级测试单独封装芯片安装区域半导体封装单独芯片项目分类项目信息管芯电拣选晶片级测试电路基板结果获得电特性封装制造芯片分类

[发明专利]芯片性能等级预测、封装方法及装置-CN202111394015.7在审
发明人：赵纯;袁智皓;丁严蕾 -专利权人：上海安路信息科技股份有限公司
申请日： 2021-11-23 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G06Q10/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片性能等级预测、封装方法及装置，所述芯片性能等级预测方法包括：获取若干经过晶圆测试后的裸芯片的第一晶圆测试参数值；根据晶圆测试分级预测规则以及各第一晶圆测试参数值，预测各裸芯片经封装后所形成的已封装芯片的性能等级；晶圆测试分级预测规则的生成，包括：构建用于确定晶圆测试参数值与终测参数值之间的映射关系的关系模型；获取用于在芯片终测后进行芯片性能等级划分的终测分级规则，并提取终测分级规则所对应的各分级终测参数值；将各分级终测参数值输入至关系模型中，以使关系模型输出若干分级晶圆测试参数值，继而根据各分级晶圆测试参数值生成晶圆测试分级预测规则。
芯片性能等级预测封装方法装置

[发明专利]分级回归测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品-CN202211408636.0在审
发明人：吕美洁;高小明;郭继泱;张天 -专利权人：中国工商银行股份有限公司
申请日： 2022-11-10 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本公开提供了一种分级回归测试方法，涉及自动化测试技术领域，可以应用于金融科技领域。所述方法包括：响应于回归测试指令，获取分级回归测试目标和变动代码的代码调用链；根据函数调用关系对所述目标代码调用链进行分级，以确定多级调用函数；根据所述多级调用函数确定待测试案例；根据所述分级回归测试目标对所述待测试案例进行调整，以确定目标测试案例；以及执行所述目标测试案例，以生成回归测试报告。本公开还提供了一种分级回归测试装置、设备、存储介质和程序产品。
分级回归测试方法装置设备存储介质程序产品

[发明专利]用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质-CN202310428650.5有效
发明人：王世生 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-09-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开实施例提供一种用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质。该方法包括：获取测试芯片的第一针测结果和失效测试结果；根据第一针测结果和失效测试结果，得到测试芯片的测试项的重要性参考值；根据重要性参考值，从测试项中得到候选测试项；获取待分级芯片的第二针测结果，第二针测结果包括待分级芯片在候选测试项下的测量值；根据第二针测结果，对待分级芯片分级。本公开的方法获取候选测试项排除了人工的主观性，得到的芯片的分级结果会更加客观且精确。
用于芯片分级方法装置计算机设备可读存储介质

[发明专利]一种能力测试分级方法和装置-CN202110758961.9在审
发明人：沈国平;李迪 -专利权人：赛飞特工程技术集团有限公司
申请日： 2021-07-05 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G06Q50/20 文献下载
摘要：本申请提供了一种能力测试分级方法，包括：建立能力测试题库；生成能力测试题库的索引；生成初始测试信息，根据初始测试信息生成第一组题目；采集第一测试数据并传输至分析模块；使用第一测试数据生成用户数据矩阵图，并将用户数据矩阵图输入能力水平分级深度神经网络，对用户数据矩阵图进行分类识别，分类识别的结果包含用户的能力水平分级信息；根据能力水平分级信息生成第二组题目。此外，本申请还提供了一种能力测试分级装置，包括：题库存储模块、索引模块、控制模块、分析模块和用户终端。本申请提供的能力测试分级装置用于执行本申请提供的能力测试分级方法。
一种能力测试分级方法装置

[发明专利]一种基于多维权重的自动化测试分级方法及系统-CN201910182063.6在审
发明人：万书吉 -专利权人：北京城市网邻信息技术有限公司
申请日： 2019-03-11 - 公布日： 2019-06-18 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供一种基于多维权重的自动化测试分级方法及系统，该包括：选择影响各层级测试单元的多个维度属性，配置所述多个维度属性分别对应的各个分值指标，定期收集所述多个维度属性对应的各个分值指标，最终计算汇总得到测试用例分级数值，再根据所述测试用例分级数值对自动化测试进行分级，进而实现了在自动化测试过程中无需手工配置和更改测试用例级别，自动对测试用例进行分级，从而大大减少了测试完成时间，并显著提高了测试的有效性，极大减少了维护成本；进一步地，通过层级权重计算的方式，定位的粒度更细，从而使得自动化测试分级更为客观和高效。
分级自动化测试测试维度属性层级自动化测试过程测试单元权重计算手工配置配置维护

[发明专利]一种煤层瓦斯参数精准测定和分区抽采预测方法-CN202211646130.3在审
发明人：郑凯歌;赵继展;戴楠;杨欢;李彬刚;杨森;张俭;贾秉义;王泽阳 -专利权人：中煤科工集团西安研究院有限公司
申请日： 2022-12-21 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： E21B47/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种煤层瓦斯参数精准测定和分区抽采预测方法，涉及煤矿井下安全技术领域，包括形成测定孔道；于测定孔道中安装测试装置；形成独立的测试空间；获取各个测试空间内的第一瓦斯综合参数信息；根据预设标准和多个第一瓦斯综合参数信息，得到各个测试空间对应的危险分级；对比多个相邻测试空间的危险分级，并获取分级差值，将分级差值与预设阈值对比；当分级差值小于预设阈值时，开始瓦斯抽采钻孔；当相邻测试空间的分级差值超过预设阈值时，划分中部区域和边界区域，获取边界区域对应的危险分级；在测试空间内中部区域和边界区域分别开始瓦斯抽采钻孔。
一种煤层瓦斯参数精准测定分区预测方法

[发明专利]一种芯片测试方法及系统-CN202110040675.9在审
发明人：杨木兰 -专利权人：杨木兰
申请日： 2021-01-13 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片测试方法，包括步骤S1、第一测试机对未封装的第一芯片进行第一功能测试，并同步生成第一芯片的第一质量分级码；步骤S2、依据第一质量分级码对第一芯片进行筛选并将保留的第一芯片封装生成第二芯片；步骤S3、第二测试机对第二芯片进行第二功能测试，并同步生成第二芯片的第二质量分级码。本发明依据封装前的测试结果对芯片进行第一质量分级并生成第一质量分级码，保存封装前测试的记忆性，再依据第一质量分级码中读取封装前的芯片类别按对应级别对芯片进行封装后测试，在测试过程中利用测试的记忆性，可避免对下位芯片执行上位测试，进而避免无效测试过程，有效的提高了测试效率。
一种芯片测试方法系统

[发明专利]一种语言能力障碍分级系统及其实现方法-CN201710969903.4在审
发明人：李炜;陆烁;丘国新;杨靖雯 -专利权人：中山大学
申请日： 2017-10-18 - 公布日： 2018-04-13 - 主分类号： G16H50/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种语言能力障碍分级系统及其实现方法，包括测试模块、计时模块和分级评定模块，增设了测试模块，将受测者作答的声音或书写识别为文字答案，使得语言能力障碍分级系统可以进行客观的测试，并具备统一的测试标准；增设了计时模块，使得语言能力障碍测试系统可以从时间的维度上评价受测者的回答；增设了分级评定模块，可以配合测试模块和计时模块自动地完成对受测者的分级评定，测试过程中无需医生全程参与，节省了人力，释放了紧张的医生资源
一种语言能力障碍分级系统及其实现方法

[发明专利]一种精密模具压力测试机及测试方法-CN202111292490.3在审
发明人：滕之道;成丹蕾 -专利权人：安徽龙锐模塑有限公司
申请日： 2021-11-03 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G01N3/16 文献下载
摘要：本发明涉及模具技术领域，具体是一种精密模具压力测试机及测试方法，包括测试架和压力架，压力架内壁的一侧通过螺栓安装有驱动电机，驱动电机的端部通过键与键槽连接有活动盘，活动盘的外壁一侧焊接有分级杆，压力架的内部一侧活动连接有分级盘，且分级盘的外壁开设有若干个插槽，分级盘的外壁上固定安装有分级件，分级件的外部套接有扣环，扣环的一侧设置有压动杆，压动杆的底端活动连接有压力件，压力件的底部通过螺栓安装有配重压板，测试架的顶部一侧焊接有组合箱，本发明的活动盘受到驱动电机的带动后，分级盘能够同时带动分级件转动，从而使配重压板向下压动进行测试，分级盘和分级件便于配重压板下移程度的逐步升级。
一种精密模具压力测试方法

[发明专利]一种中文阅读智能分级系统及其实现方法、实现装置-CN202010777121.2在审
发明人：姚润龙 -专利权人：弘衍信息科技（上海）有限公司
申请日： 2020-08-05 - 公布日： 2022-02-25 - 主分类号： G06F40/117 文献下载
摘要：本发明涉及一种中文阅读智能分级系统及其实现方法、实现装置，中文阅读智能分级系统包括用于智能分级的神经网络模型，其实现方法包括如下步骤：S1、获取待训练的文本和测试文本；S2、对训练文本和测试文本分别进行级别标记；S3、将待训练的文本和测试文本转化为采用数学向量表示的数据；S4、构建用于智能分级的神经网络模型，采用待训练的文本的数学向量表示的数据进行模型训练；S5、将测试文本的数学向量表示的数据输入至神经网络模型进行测试，根据测试结果调整神经网络模型获得最优神经网络模型参数。与现有技术相比，本发明中文阅读智能分级系统能对文本进行自动分级，同时分级精度高。
一种中文阅读智能分级系统及其实现方法装置

[发明专利]粉尘燃烧危险性的分级方法-CN201710964732.6在审
发明人：霍明甲;吴保意;张玉霞;张会光;王双全;王亚琴;黄飞 -专利权人：国家安全生产监督管理总局化学品登记中心;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
申请日： 2017-10-17 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： G01N25/54 文献下载
摘要：本发明涉及一种粉尘燃烧危险性的分级方法，主要解决现有技术中粉尘是否可燃缺少测试及判断标准、对于可燃粉缺少其危险性大小的分级依据的问题。本发明通过采用一种粉尘燃烧危险性的分级方法，首先在粉尘可燃性测试设备上测试粉尘是否可燃，然后在可燃性粉尘燃烧传播性测试设备上测试可燃性粉尘的燃烧传播性，最后根据燃烧传播性进行燃烧危险性分级的技术方案较好地解决了上述问题，可用于粉尘燃烧危险性的分级中。
分级粉尘燃烧传播性燃烧粉尘可燃性粉尘测试设备测试危险性分级判断标准可燃性可用

[发明专利]芯片分级方法、装置及计算机可读存储介质-CN202211651504.0在审
发明人：张太白;陆毅 -专利权人：成都海光集成电路设计有限公司
申请日： 2022-12-21 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片分级方法、装置及计算机可读存储介质。所述方法包括：根据预先设置的分级优化标准，对通过晶圆测试的裸片进行分类；对分入同一分类区域的裸片进行封装，并对封装后的芯片进行最终测试，获取封装后的芯片的分类区域信息以及最终测试结果；根据所述芯片的分类区域信息以及最终测试结果，对预先设置的分级优化标准进行调整。本发明能够根据封装后的芯片的最终测试结果，对芯片分级优化标准进行动态调整，从而提高芯片分级的精确度。
芯片分级方法装置计算机可读存储介质

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条